РАМАНОВСКИЕ И МОРФОЛОГИЧЕСКИЕ ПРИЗНАКИ НЕОДНОРОДНОСТИ Ni/Si ДО ТЕРМИЧЕСКОГО СИЛИЦИДООБРАЗОВАНИЯ
Keywords:
Ni/Si; кремний; никель; электронно-лучевое формирование слоя; рамановская спектроскопия; СЭМ/ЭДС; приповерхностная неоднородность; силицидообразование.Abstract
Исследовано состояние Ni/Si после электронно-лучевого формирования слоя Ni на монокристаллическом Si(100) без последующего отжига. Положение основной фононной линии Si сохраняется в интервале 519.70–519.77 см⁻¹, тогда как её полная ширина на половине максимума (ПШПМ) локально различается. СЭМ выявляет различия краевой морфологии, а ЭДС подтверждает присутствие Ni. Результаты фиксируют неоднородное исходное состояние приповерхностной области перед термическим силицидообразованием.
References
Downloads
Published
2026-08-15
Issue
Section
Articles